使用：

用于微米和纳米级结构面表面测量的快速高精度干涉仪解决方案;包括阶梯曲面和自由曲面。

优势：

当您需要在生产中实现微米和纳米级表面特征的质量控制时，干涉测量具有高速、高精度和无接触等优势。如果特征包括步长和自由形式，干涉测量也可以为您提供所需的数据。

为特定功能设计的结构化表面或意外特征（如表面损坏或不需要的颗粒）在越来越精确的产品中起着关键作用。需要及时的表面数据来支持有效的生产。我们拥有干涉仪解决方案，可在您需要时提供您需要的测量数据。

这些系统提供您所需的测量功能以及直接集成到生产环境中的能力。

特点；

<1秒内完成在线自动测量。

特征提取。

用户可选择采样、趋势图和公差设置。

质量报告。

用于工业 4.0 集成的 TCP-IP 通信。

可选的 X、Y、Z 定位平台。

用于卷对卷应用的浮动辊选项。